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KMS-BX150便携式X光检查系统

更新:2014-10 点击:
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KMS-BX150便携式X光检查系统介绍
便携式X光机技术参数:
(一)成像质量:
1、空间分辨力:≤Φ=0.101mm金属丝。
2、穿透能力:≥10mm钢板。
3、X 射线探测系统:768×576像素以上。
(二)系统整体指标:
1、整套系统轻便、便携,设备总质量≤28kg
2、系统可用有线或无线遥控方式操作,有线控制距离≥30m,无线遥控距离≥50m。
3、适应环境温度 -15℃~+50℃,相对湿度 ~95%(无冷凝)。
4、图像采集器:采集器尺寸:≥(340mm×270mm×155mm) ;成像面积:≥(255mm×188mm);质量:≤5.5 kg(含电池)。
5、供电:交、直流两用,使用电池供电独立工作,电压为DC 12V,电池供电时间 ≥2.5 h;交流市电 AC 220V 50Hz。
6、笔记本电脑:主流品牌笔记本,系统最低配置要求:酷睿2双核处理器i5-3230,主频2.5G, 2GB DDR3双通道内存,500G SATA硬盘, DVD刻录光驱,1G独立显卡。


(三)X 射线源:
1、脉冲工作方式,脉冲次数在1-99可控;
2、X 射线能量 150kV,单脉冲剂量≤38.636µGy在X射线窗口30cm处;X 射线高压脉冲宽度100ns;
3、X 射线源重量: ≤6.0 kg(含电池);
4、X射线源尺寸:≤ 340mm×130mm×200mm;
5、X射线泄露≤0.05µGy/h,距X射线源表面50mm处;X射线泄露≤2.48µGy/h,距X射线辐射窗口1m处。

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